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能量色散型X射線(xiàn)熒光分析儀 EDX-LE是一款專(zhuān)用于RoHS/ELV/法規限制的有害元素篩選分析的X射線(xiàn)熒光分析裝置。 配備無(wú)需液氮型電子制冷(Si-PIN檢測器)檢測器,因此在實(shí)現降低運作成本和更易維護的同時(shí),以維持高可信性分析和進(jìn)一步提高操作性達到自動(dòng)化分析為目標。 根據不同樣品從開(kāi)始測試到得到結果所需測試時(shí)間基本上可在1分鐘內完成,所以可以應對RoHS法規中所限制的有害元素的篩選分析。另外,近幾年在眾多企業(yè)中實(shí)施的自行檢測有害元素Cl的檢測分析,該款裝置也可以通過(guò)篩選分析簡(jiǎn)單的檢測出來(lái)。同時(shí)推薦該裝置作為中國版RoHS第二階段應對手段。
追求省時(shí)省力 高度篩選分析
降低運行成本、減少日常維護量
針對外檢等可對多數產(chǎn)品以管理值為標準檢測有害元素含量是否達標而使用的篩選分析,被進(jìn)一步要求其提高現場(chǎng)操作性和降低運行成本。而EDX-LE就是為了應對這種需求開(kāi)發(fā)出來(lái)的裝置。
自動(dòng)老化功能
配備無(wú)需液氮型檢測器
由于配備了無(wú)需液氮進(jìn)行冷卻的檢測器,因此大幅削減了使用時(shí)的運行成本。
X射線(xiàn)光管自動(dòng)老化功能
為延長(cháng)X光管的壽命而進(jìn)行的光管老化(穩定性運轉)是裝置管理上必不可缺的。在裝置長(cháng)期不運行的情況下,再次啟動(dòng)時(shí)需要對X射線(xiàn)光管進(jìn)行老化處理,而該裝置可自動(dòng)執行該功能以防故障發(fā)生,進(jìn)而提高操作性。
裝置自檢功能
測試前的裝置自檢功能
為了隨時(shí)得到準確的分析結果裝置需要進(jìn)行校正,而用戶(hù)們希望盡可能在短時(shí)間內完成校正時(shí)的操作和判定。EDX-LE在開(kāi)啟儀器后會(huì )對能量校正和定量值校正的操作進(jìn)行幫助,當需要進(jìn)行校正時(shí)會(huì )自動(dòng)進(jìn)行校正。
配備只針對RoHS法規有害5元素+氯元素所需的 篩選分析功能
盡可能將需要熒光X射線(xiàn)分析知識的操作步驟自動(dòng)化,可進(jìn)行RoHS法規5元素+氯元素(選配)的高速篩選分析。EDX-LE從開(kāi)始分析到得到結果只需要(根據樣品)約1分鐘。不僅可進(jìn)行高速篩選分析,同時(shí)維持了高可信性的分析水平
配備篩選輕松設定功能,能夠根據管理方法輕松自定義
簡(jiǎn)潔的高精度篩選分析
電源ON之后只需15分鐘的穩定時(shí)間就可開(kāi)始分析。
當對象元素含量合格與否的判定確認后,為縮短時(shí)間裝置會(huì )自動(dòng)停止測定,但該儀器也可進(jìn)行高靈敏度、高可信性的分析。裝置內置有1點(diǎn)工作曲線(xiàn)可進(jìn)行無(wú)標樣的定量分析。
下圖為塑膠材料(PVC材料包裹的線(xiàn)材)的測定實(shí)例。管理標準簡(jiǎn)單的顯示為OK、NG、灰色區域。 *本實(shí)例的管理標準設定為RoHS法規最大允許濃度標準。
深入淺出
利用[篩選分析]畫(huà)面、操作簡(jiǎn)單方便
操作簡(jiǎn)便,一個(gè)指令即可開(kāi)始全自動(dòng)測定。
測定條件的選擇過(guò)去一直依賴(lài)操作者的判斷,現在改由裝置自動(dòng)判斷,即使初學(xué)者也可簡(jiǎn)便·高精度地測定。
第一步
放置樣品
●將樣品放在分析位置,利用樣品圖像觀(guān)察裝置確認分析位置。
●選擇分析區域
●關(guān)閉樣品室
第二步
選擇分析條件/輸入樣品名稱(chēng)
●一個(gè)畫(huà)面中可以同時(shí)顯示樣品圖像、選擇分析條件、輸入樣品名稱(chēng)。
●點(diǎn)擊開(kāi)始。
第三步
顯示分析結果
● 測定結束后,畫(huà)面上將清楚顯示5種元素的[合格判定]、[含量]、[3σ(測定偏差)]。
● 點(diǎn)擊即可顯示[結果列表]或[創(chuàng )建報告書(shū)]。
從主成分判定到條件選擇全部實(shí)現自動(dòng)處理
只需1次點(diǎn)擊,便可根據預先登錄的分析條件,
自動(dòng)執行從測定到結果的一系列操作。
■ 校準曲線(xiàn)自動(dòng)選擇功能
配備所有必備功能
標準配備了RoHS/ELV分析所需的各種功能
EDX-LE標準配備了RoHS/ELV/無(wú)鹵素分析所需的所有必要功能,用戶(hù)無(wú)需購買(mǎi)特殊選購件,就可以獲得較佳RoHS/ELV/無(wú)鹵素分析系統。
標準配置改變照射直徑的準直器&樣品圖像觀(guān)察組件
測定異物或者測定包含多個(gè)部位的樣品時(shí),通過(guò)樣品圖像觀(guān)察組件在觀(guān)察樣品的同時(shí),可以簡(jiǎn)單的設定分析位置。測定小樣品或樣品中特定位置時(shí),可以使用準直器,更改X射線(xiàn)照射區域。
(3, 5, 10 mmφ)
10mmφ圖像(塑膠) 3mmφ(金屬)
形狀校正功能
即使含量相同的樣品,在形狀和厚度不同時(shí),X射線(xiàn)強度將發(fā)生變化,得到的定量值也會(huì )受到影響,EDX-LE通過(guò)使用BG內標法*,可以排除形狀和厚度的影響,取得高精度結果。
※ BG內標法
通過(guò)散射X射線(xiàn)強度使各元素的X射線(xiàn)熒光強度標準化的一種校正方法。
測定結果列表管理
創(chuàng )建列表功能
已保存數據可以用Excel形式列表顯示。
超大樣品室,可直接測試大型樣品
超大樣品室可以對應各種樣品形態(tài)及大小。
采用超大樣品室
采用超大樣品室
最大可以放置370mm長(cháng)×320mm寬×155mm高的大型樣品,令緊湊型機身望塵莫及。